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技術名稱 Technology
發明人 Inventor
陳炤彰, 李人傑, 邱永傑, 李賢銘, 林建憲, 陳俊臣, 薛慶堂,
所有權人 Asignee 國立臺灣科技大學

專利國家 Country 申請號 Application No. 專利號 Patent No. 中心案號 Serial No.
中華民國 109118100 申請中 1090045TW0
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技術摘要:
本專利設計一專用階高塊及校正表面形貌量測方法,用於校正旋轉機台上之量測系統的表面形貌量測結果。量測系統主要用於量測旋轉平台之表面形貌。校正方法為透過量測一個已知表面形貌的階高塊,將量測系統量測結果比對階高塊的表面形貌,以此結果校正量測系統。透過此方法量測專用階高塊,可得知感測器之精準度及可靠度,確保量測品質、機構架設品質、旋轉機台機況、量測環境可靠度等。

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